スーパーキャパシタの信頼性: 長期信頼性試験データ (パート 2)

スーパーキャパシタの信頼性: 長期信頼性試験データ (パート 2)
作者: エリック・デローズ | ボブ・ノプスナイダー | バーラト・ラワル
要約:
電子部品の長期信頼性を確立するには、デバイスの物理学、劣化挙動、故障メカニズムを理解するために、電子部品の広範なテストが必要です。部品の特性をより深く理解することで、電圧、温度、相対湿度などのアプリケーションの動作条件に応じて、顧客に推奨できる適切な部品を利用できるようになります。製造されたすべての製品のサンプルは、信頼性テスト データを確立するために、最大 4,000 時間にわたって評価およびテストされます。当社は、スーパーキャパシタまたは電気二重層キャパシタの信頼性において業界のリーダーになることを目指しており、製品構成の長期信頼性を理解して製品を裏付けるデューデリジェンスを行っています。この出版物には、顧客の評価に利用できる広範な 4,000 時間の信頼性テスト データが記載されており、このデータはさまざまなアプリケーションにおいて非常に貴重であると判断しました。
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