パフォーマンスを向上させた ビアを介したメタライゼーションの厚みの増加による低抵抗接続 純粋なCuおよびAuメッキ、セラミックフィラー材料なし 信頼性の向上 接続はビアの壁への接着とは無関係です キャリアへの装着後にスルーホールの検査が可能 構造上の整合性 金属が上部導体の広い領域に重なり、メッキリベットを形成します 閉じた空隙に液体や気体が閉じ込められる可能性を回避します データシート/カタログ データシート/カタログ – クリックしてダウンロード 工学的薄膜ソリューション |製品ガイド お問い合わせ