タンタルコンデンサの最高の信頼性を実現

タンタルコンデンサの最高の信頼性を実現
作者: ジェームズ・ベイツ | マルク・ボーリュー | マイケル·ミラー | ジョセフ・パウルス

要約：
ワイブル信頼性評価は、MIL 規格に基づいて何十年にもわたってタンタル コンデンサの特性評価に使用されてきました。時間の経過とともに、プロセス、材料、テスト、機器、その他のプロセス制御において大幅な改善が行われました。

Weibull は依然として今日のテクノロジーと Hi-Rel アプリケーションに最適ですか?

信頼性を保証するための現在のワイブルグレーディングには欠陥があるため、新しいアプローチが必要です。特に、ワイブル加速係数を最大化するために初期寿命故障の必要性とバーンイン中に有害な可能性のある過剰な電圧を印加する必要があるためです。

このホワイトペーパーでは、既存のバーンインプロセスの修正、DC リークスクリーニング技術、およびプロセスモニタリングの改善について説明します。これらの変更により、生成される製品の DC リークの一貫性が向上するだけでなく、電界による誘電体損傷の可能性も排除されます。その結果、耐故障性ゼロのアプリケーションで最高の性能を発揮するタンタル コンデンサが誕生しました。

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