多端子デバイスのインダクタンス測定

多端子デバイスのインダクタンス測定
作者: ベン・スミス

要約：
電気通信業界とコンピュータ業界の両方における新たなイノベーションにより、電源デカップリング用途で低インダクタンスの容量性デバイスを使用する必要性が高まっています。このような状況を踏まえ、最近では、これらのデバイスを構築するためのさまざまなコンセプトが、50pH 未満のインダクタンスを達成するための鍵となっています。しかし、新しいイノベーションのプロセスには、測定技術に起因する重大なボトルネックがあります。新しいデバイスのほとんどは、低インダクタンス レベルを達成するために、マルチパス電流フロー、短い長さ、等電流注入技術や逆電流注入技術などの技術を使用しています。また、これらの新しい設計に加えて、より高いエネルギー貯蔵能力、つまりより多くの静電容量も必要になります。これらの影響はすべて、測定プロセスにおいてより複雑なタスクを引き起こします。この文書では、測定のための一般的なアプローチと、特にインターデジタル (IDC) タイプのデバイスに特化した正確なアプローチの両方を提供します。

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