ダイナミック RAM 用デカップリング コンデンサの機能テスト
作者: アーチ・マーティン | ウォード・パーキンソン
要約：
高周波使用テスト用に特別に設計された 64K ダイナミック RAM メモリ ボードの実際の動作条件下で、バルク タンタル コンデンサを使用する場合と使用しない場合のさまざまなタイプの分布デカップリング コンデンサの性能比較を示します。多層セラミックコンデンサは、デカップリングにバルクタンタルコンデンサを使用しなくても効果的かつ経済的であることが示されています。
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高周波使用テスト用に特別に設計された 64K ダイナミック RAM メモリ ボードの実際の動作条件下で、バルク タンタル コンデンサを使用する場合と使用しない場合のさまざまなタイプの分布デカップリング コンデンサの性能比較を示します。多層セラミックコンデンサは、デカップリングにバルクタンタルコンデンサを使用しなくても効果的かつ経済的であることが示されています。
